Михайлов А. А.   (Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики, Санкт-Петербург, Россия)
                
            
            
    
        
            
            
                
                    
                        |   | 
                        
                         Рассматривается отклонения в спектральной характеристике пропускания привносимые отклонениями от заданной толщины оптического покрытия, которое нанесено на образующие цилиндрической поверхности, с помощью резистивного испарения в вакуумной камере. 
                        Ключевые слова:Цилиндрическая поверхность, оптическое покрытие, интерференционное покрытие 
                         | 
                     
                
             
             | 
        
        
            |   | 
        
        
            | 
             Читать полный текст статьи …  
             | 
        
        
             
             
            
                
                    
                         Ссылка для цитирования: Михайлов А. А. Влияние отклонений в распределении по толщине нанесенного на образующие цилиндрической поверхности оптического покрытия на его спектральную характеристику пропускания // Современная наука: актуальные проблемы теории и практики. Серия: Естественные и Технические Науки. -2014. -№11-12. -С. 62-64 | 
                         | 
                     
                
             
             |