Чепайкин  Иван Алексеевич   (НИЯУ МИФИ (Москва))
                
            
            
    
        
            
            
                
                    
                        |   | 
                        
                         Статья посвящена анализу рынка гамма-радиографии – методу неразрушающего контроля, принцип работы которого основан на экспонировании контролируемого объекта на пленку в результате воздействия гамма-излучения. Приведена и проанализирована таблица рекомендуемых сценариев использования методов неразрушающего контроля. Проанализирован глобальный и Российский рынки гамма-радиографии. Сформулированы тенденции изменения рынка гамма-радиографии в России и действия, которые необходимо предпринять для развития этого рынка. 
                        Ключевые слова:неразрушающий контроль, гамма-дефектоскоп, гамма-радиография, NDT, ИИИ, дефекты сварных швов. 
                         | 
                     
                
             
             | 
        
        
            |   | 
        
        
            | 
             Читать полный текст статьи …  
             | 
        
        
             
             
            
                
                    
                         Ссылка для цитирования: Чепайкин  И. А. Обзор мирового рынка приборов неразрушающего контроля. Гамма-дефектоскопия // Современная наука: актуальные проблемы теории и практики. Серия: Естественные и Технические Науки. -2016. -№07. -С. 10-16 | 
                         | 
                     
                
             
             |